Titolo | Responsabili | Data inizio |
---|---|---|
Yield Improvement in Nanotechnology Production Process of Standard Cells Based Integrated Circuits (ImpNanolC) - Joint Project 2005 | Franco Fummi | 01/01/07 |
Manufacturability Characterization of Standard Cells for Deep Submicron Chip | Franco Fummi | 14/02/06 |
Anno | Numero |
---|---|
2007 |
1
|
2006 |
1
|
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